Microscópio de Força Atômica de Varredura com Sonda

• O design da cabeça de varredura do pórtico, base de mármore, estágio de adsorção a vácuo, tamanho e peso da amostra são basicamente ilimitados
• Método inteligente de alimentação de agulha com detecção automática de cerâmica piezoelétrica controlada por motor para proteger sondas e amostras
• Posicionamento óptico automático, sem necessidade de ajustar o foco, observação em tempo real e área de varredura de amostra da sonda de posicionamento
• Equipado com escudo de metal fechado, mesa de absorção de choque pneumática, forte capacidade anti-interferência;
• Editor de usuário de correção não linear do scanner integrado, caracterização nanométrica e precisão de medição é melhor que 98%

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• ◆ O primeiro microscópio de força atômica comercial na China que mantém a amostra estacionária e a sonda se move e varre;

  ◆ O tamanho e o peso da amostra são quase ilimitados, especialmente adequados para a detecção de amostras muito grandes;

• ◆ O estágio de amostra é altamente expansível, o que é muito conveniente para a combinação de vários instrumentos para realizar a detecção in-situ;

  ◆ Controle elétrico da mesa móvel de amostra e mesa elevatória, que pode ser programada com posição multiponto para realizar detecção automática rápida;

  ◆ Projeto da cabeça de varredura do pórtico, base de mármore, adsorção a vácuo e estágio de adsorção magnética;

• ◆ O motor controla automaticamente o método inteligente de alimentação da agulha da detecção automática de cerâmica piezoelétrica para proteger a sonda e a amostra;

• ◆ Posicionamento do microscópio óptico auxiliar de alta ampliação, observação em tempo real e posicionamento da sonda e área de varredura da amostra;

• ◆ Editor de usuário de correção não linear do scanner integrado, caracterização nanométrica e precisão de medição superior a 98%.

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• 	A62.4510	A62.4511
  Modo de trabalho	Modo de contato Modo de toque [Opcional] Modo de atrito Modo de Fase Modo magnético Modo eletrostático	Modo de contato Modo de toque [Opcional] Modo de atrito Modo de Fase Modo magnético Modo eletrostático
  Curva do Espectro Atual	Curva RMS-Z Curva de Força FZ	Curva RMS-Z Curva de Força FZ
  Modo de varredura XY	Escaneamento acionado por sonda, Scanner de tubo piezoelétrico	Escaneamento acionado por amostra, estágio de escaneamento de deslocamento piezoelétrico de circuito fechado
  Faixa de varredura XY	70×70um	Circuito Fechado 100×100um
  Resolução de digitalização XY	0,2 nm	Circuito Fechado 0,5nm
  Modo de digitalização Z		Varredura orientada por sonda
  Faixa de varredura Z	5um	5um
  Resolução de digitalização Z	0,05 nm	0,05 nm
  Velocidade de digitalização	0,6Hz~30Hz	0,6Hz~30Hz
  Ângulo de varredura	0~360°	0~360°
  Peso da amostra	≤15Kg	≤0,5Kg
  Tamanho do Palco	Diâmetro 100mm [Opcional] Diâmetro 200mm Diâmetro 300mm	Diâmetro 100mm [Opcional] Diâmetro 200mm Diâmetro 300mm
  Estágio XY em Movimento	100x100mm, Resolução 1um [Opcional] 200x200mm 300x300mm	100x100mm, Resolução 1um [Opcional] 200x200mm 300x300mm
  Estágio Z em Movimento	15mm, resolução 10nm [Opcional] 20 mm 25mm	15mm, resolução 10nm [Opcional] 20 mm 25mm
  Design de Absorção de Choque	Suspensão de mola [Opcional] Amortecedor Ativo	Suspensão de mola [Opcional] Amortecedor Ativo
  Sistema óptico	Objetivo 5x Câmera Digital de 5,0 M [Opcional] Objetivo 10x Objetivo 20x	Objetivo 5x Câmera Digital de 5,0 M [Opcional] Objetivo 10x Objetivo 20x
  Resultado	USB 2.0/3.0	USB 2.0/3.0
  Programas	Ganhe XP/7/8/10	Ganhe XP/7/8/10
  Corpo Principal	Cabeça de varredura de pórtico, base de mármore	Cabeça de varredura de pórtico, base de mármore

• Microscópio	Microscópio óptico	Microscópio eletrônico	Microscópio de Sonda de Varredura
  Resolução máxima (um)	0,18	0,00011	0,00008
  Observação	Imersão em óleo 1500x	Imagem de átomos de carbono de diamante	Imagem de átomos de carbono grafíticos de alta ordem

• Interação Sonda-Amostra	Medir Sinal	Em formação
  Força	Forca eletrostatica	Forma
  Corrente do túnel	Atual	Forma, Condutividade
  Força magnética	Estágio	Estrutura Magnética
  Forca eletrostatica	Estágio	distribuição de carga

• 	Resolução	Condição de trabalho	Temperação de Trabalho	Dano à Amostra	Profundidade de Inspeção
  SPM	Nível do átomo 0,1 nm	Normal, Líquido, Vácuo	Sala ou Baixa Temperação	Nenhum	1~2 Nível do átomo
  TEM	Ponto 0,3~0,5nm Malha 0,1 ~ 0,2 nm	Alto vácuo	Temperação da Sala	Pequena	Geralmente <100nm
  SEM	6-10nm	Alto vácuo	Temperação da Sala	Pequena	10mm @ 10x 1um @ 10000x
  FIM	Nível do átomo 0,1 nm	Super alto vácuo	30~80K	Dano	Espessura do átomo

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