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Câmara de envelhecimento acelerada do alto e baixo do sistema de teste da memória Flash temperatura detalhada
Câmara de envelhecimento acelerada do alto e baixo do sistema de teste da memória Flash temperatura detalhada
Especificações
Number modelo :
HD-512-NAND
Lugar de origem :
China
MOQ :
1set
Termos do pagamento :
L/C, D/A, D/P, T/T, Western Union, MoneyGram
Capacidade da fonte :
150 grupos/meses
Prazo de entrega :
30 dias após a ordem
Detalhes de empacotamento :
Caso de madeira forte
Exposição :
Exposição do LCD da cor
Modo de operação :
modo de programa, modo do valor fixo
Uniformidade da temperatura :
≤±2℃
taxa de aquecimento :
5℃/min (refrigerar mecânico, sob a carga padrão)
Descrição

Câmara de envelhecimento acelerada do alto e baixo do sistema de teste da memória Flash temperatura detalhada

 

especificação de produto

O sistema de teste inteligente HD-512-NAND da microplaqueta de memória Flash é um sistema de teste detalhado da memória Flash que possa personalizar os testes paralelos do plano e do apoio de teste de vários tipos de partículas da memória Flash. 64 tipos, o número máximo de partículas da memória Flash paralelamente que testam podem alcançar 512.

 

O sistema de teste inteligente YC-512-NAND da microplaqueta de memória Flash suporta testes padrões de teste múltiplos e funções feitas sob encomenda do parâmetro do teste, e pode fornecer o processo básico do teste do um-clique e o processo de nível elevado do teste a flexibilidade alta, não somente pode realizar a vida restante de partículas da memória Flash, medida real, retenção dos dados e ler a interferência e outros testes funcionais pode igualmente ajudar usuários a verificar o estado da confiança de partículas da memória Flash. Depois que o teste é terminado, o relatório de teste pode para exportar facilmente e rapidamente com a uma chave, fornecendo clientes os dados de teste gráficos os mais intuitivos e os mais exatos. Forneça a referência de dados a mais intuitiva para a classificação da categoria e a aplicação de partículas da memória Flash, e realize a classificação inteligente baseada nos resultados da inspeção da qualidade de partículas da memória Flash.

 

O ※ a base do teste cumpre com o suporte No.218 de JEDEC: Exigências de circuito integrado de circuito integrado da movimentação da associação B-2016 da tecnologia (SSD) e teste de resistência Motho;

 

O ※ a base do teste cumpre com o JEDEC No.47 padrão NVCE: Qualificação Esforço-Teste-conduzida da tecnologia associação de circuito integrado dos circuitos integrados;

 

O ※ as especificações do projeto da placa de teste cumpre as exigências do ambiente da temperatura do teste da industrial-categoria;

 

Informação

 

Tamanho interno da caixa W760×D400×H890mm
Tamanho exterior da caixa W1870×D890×H1830mm
volume 270L
Método de abertura Única porta (direita abra)
método refrigerando refrigerado a ar
peso sobre 950KG
fonte de alimentação C.A. 380V aproximadamente 7,5 quilowatts

 

Parâmetro da temperatura

variação da temperatura -70℃~150℃
Flutuação da temperatura

≤±0.5℃

≤±1℃
offset da temperatura ≤±2℃
definição da temperatura 0.01℃
Taxa de aquecimento 5℃/min (refrigerar mecânico, sob a carga padrão)
taxa da mudança de temperatura

A alta temperatura pode encontrar ajustável 5℃~8℃/min não-linear (medido na tomada de ar, na refrigeração mecânica, sob a carga padrão), baixa temperatura pode encontrar 0℃~2℃/min não-linear

Ajustável (medido na tomada de ar, refrigerar mecânico, sob a carga normal)
uniformidade da temperatura ≤±2℃
carga padrão 10KG bloco de alumínio, carga 500W;

 

Padrão do teste

Equipamento de teste da temperatura GB/T5170.2-2008

 

GB/2423.1-2008 (IEC60068-2-1: 2007) métodos AB do teste da baixa temperatura.

 

GB/2423.2-2008 (IEC60068-2-2: 2007) VAGABUNDOS de alta temperatura do método do teste.

 

(MIL-STD-810D) método de alta temperatura do teste GJBl50.3.

 

(MIL-STD-810D) método do teste da baixa temperatura GJBl50.4.

 

Sistema de controlo

Exposição Exposição do LCD da cor
Modo de operação Modo de programa, modo do valor fixo
Ajuste Menu chinês e inglês (opcional), entrada do tela táctil
Ajustando a escala Temperatura: Ajuste de acordo com a escala do funcionamento da temperatura do equipamento (limite superior +5°C, mais baixo limite -5°C)

 

definição da exposição

Temperatura: 0.01°C

Tempo: 0.01min

 

 

método de controle

BTC equilibrou o método de controle da temperatura + o DCC (controle refrigerando inteligente) + DEC (controle elétrico inteligente) (o equipamento de teste da temperatura)

BTHC equilibrou a temperatura e o método de controle da umidade + o DCC (controle refrigerando inteligente) + DEC (controle elétrico inteligente) (o equipamento da temperatura e de teste da umidade)

 

Função do registro da curva

 Tem RAM com proteção da bateria, que pode salvar o valor ajustado, a preparação de amostras do valor e a preparação de amostras da época do dispositivo; o tempo de gravação máximo é 350 dias (quando o período de preparação de amostras é 1.5min)

 

 

 

Função acessória

Critique o alarme e a causa, processando a função alerta

Função da proteção do sem energia

Função da proteção da temperatura de limite superior e mais baixo

Função de sincronismo do calendário (o começo e automáticos automáticos param a operação)

função do autodiagnóstico

 

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MOQ :
1set
Termos do pagamento :
L/C, D/A, D/P, T/T, Western Union, MoneyGram
Capacidade da fonte :
150 grupos/meses
Prazo de entrega :
30 dias após a ordem
Fornecedor de contacto
Câmara de envelhecimento acelerada do alto e baixo do sistema de teste da memória Flash temperatura detalhada

Hai Da Labtester

Verified Supplier
11 Anos
guangdong, dongguan
Desde 2004
Tipo de empresa :
Manufacturer, Seller
Produtos principais :
Máquinas do teste de laboratório, Câmara de teste ambiental, máquina elástica do teste
Total Anual :
$ 5 Million-US$ 10 Million
Número de trabalhadores :
200~300
Nível de certificação :
Verified Supplier
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