Descrição geral

Os dispositivos Spansion S25FL128S e S25FL256S são produtos de memória flash não volátil que utilizam:
■ Tecnologia MirrorBit - que armazena dois bits de dados em cada transistor de matriz de memória
■ Arquitetura Eclipse - que melhora drasticamente o desempenho do programa e elimina
■ Litografia por processo de 65 nm

Esta família de dispositivos se conecta a um sistema host através de uma Interface Periférica Serial (SPI).As entradas e saídas em série de um único bit SPI tradicionais (SIngle I/O ou SIO) são suportadas, bem como comandos em série opcionais de dois bits (Dual I/O ou DIO) e quatro bits (Quad I/O ou QIO)Esta interface de largura múltipla é chamada de SPI Multi-I/O ou MIO. Além disso, a família FL-S adiciona suporte para comandos de leitura de taxa de dados dupla (DDR) para SIO, DIO,e QIO que transferir endereço e ler dados em ambas as bordas do relógio.

A arquitetura do Eclipse possui um Buffer de Programação de Páginas que permite programar até 128 palavras (256 bytes) ou 256 palavras (512 bytes) em uma operação,resultando em uma programação e apagamento mais rápidos e eficazes do que os algoritmos de programação ou apagamento SPI de geração anterior.
A execução de código diretamente da memória flash é muitas vezes chamada de Execute-In-Place ou XIP. Usando dispositivos FL-S nas taxas de clock mais altas suportadas, com comandos QIO ou DDR-QIO,a taxa de transferência de leitura de instruções pode corresponder ou exceder a interface paralela tradicional, memórias flash assíncronas, NÃO enquanto reduz a contagem de sinal dramaticamente.
Os produtos S25FL128S e S25FL256S oferecem altas densidades, juntamente com a flexibilidade e o desempenho rápido exigidos por uma variedade de aplicações embutidas.e armazenamento de dados.

Características

■ Densidade
¢ 128 Mbits (16 Mbytes)
256 Mbits (32 Mbytes)
■ Interface periférica em série (SPI)
¢ Polaridade do relógio SPI e modos de fase 0 e 3
Opção de taxa de dados dupla (DDR)
Adressagem estendida: opções de endereço de 24 ou 32 bits
¢ Serial Command set e footprint compatíveis com S25FL-A,
Famílias de SPI S25FL-K e S25FL-P
¢ Conjunto de comandos de entrada/saída múltiplos e impressão compatível com
Família S25FL-P SPI
■ LEIA comandos
Normal, Rápido, Duplo, Quad, Rápido DDR, Duplo DDR, Quad DDR
AutoBoot - ligar ou redefinir e executar uma leitura Normal ou Quad
comando automaticamente em um endereço pré-selecionado
Os dados da interface flash comum (CFI) para informações de configuração.
■ Programação (1,5 Mb/s)
Opções de buffer de programação de página de 256 ou 512 bytes
Programação Quad-Input Page (QPP) para sistemas de relógio lento
■ Eliminação (0,5 a 0,65 Mbit/s)
Opção de tamanho de setor híbrido - conjunto físico de trinta e dois setores de 4 kbyte
na parte superior ou inferior do espaço de endereço com todos os restantes setores de
64 kbytes, para compatibilidade com dispositivos S25FL de geração anterior
Opção de setor uniforme - apague sempre blocos de 256 kbyte para software
compatibilidade com dispositivos de maior densidade e futuros.
■ Endurance em ciclismo
¥ 100.000 ciclos de eliminação de programas em qualquer setor típico
■ Conservação de dados
¢ 20 anos de conservação de dados
■ Características de segurança
One Time Program (OTP) matriz de 1024 bytes
Proteção de bloqueio:
¢ Bits de registo de estado para controlar a protecção contra programas ou
Eliminação de uma série contínua de sectores.
Opções de controlo de hardware e software
Proteção avançada dos setores (PSA)
Proteção de setores individuais controlada por código de arranque ou palavra-passe
■ Tecnologia Spansion® 65 nm MirrorBit com Arquitetura EclipseTM
■ Tensão de alimentação do núcleo: 2,7 V a 3,6 V
■ Tensão de alimentação de entrada/saída: 1,65V a 3,6V
- embalagens de SO16 e FBGA
■ Faixa de temperatura:
️ Indústria (-40°C a +85°C)
️ Automóvel em cabine (-40°C a +105°C)
■ Pacotes (todos livres de Pb)
¢ SOIC de 16 níveis de chumbo (300 ml)
¢ WSON 6 x 8 mm
BGA-24 6 x 8 mm
Opções de impressão de 5 x 5 bolas (FAB024) e 4 x 6 bolas (FAC024)
¢ Conhecido bom morrer e conhecido testado morrer